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ZHONG XI

單晶硅檢測
在線咨詢 預(yù)約試驗

單晶硅檢測

發(fā)布時間:2024-05-07 17:43:01 更新時間:2024-11-16 12:38:30 檢測咨詢量:761 其他檢測中心

第三方單晶硅檢測機構(gòu)北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢驗測試中心能進行單晶硅棒、單晶硅電池、單晶硅太陽能板、單晶硅組件、單晶硅變送器、單晶硅料、單晶硅切片、單晶硅膜、P型硅片、N型硅片、無雜質(zhì)硅片、CZ單晶硅片、FZ單晶硅片、BSG單晶硅片、低阻值單晶硅片、高阻值單晶硅片、超薄單晶硅片、超大尺寸單晶硅片等單晶硅檢測項目并辦理單晶硅檢測報告。是一家國家高新技術(shù)企業(yè)第三方綜合性研究所,旗下實驗室擁有CMA檢測資質(zhì)。

檢測樣品(部分)

單晶硅棒、單晶硅電池、單晶硅太陽能板、單晶硅組件、單晶硅變送器、單晶硅料、單晶硅切片、單晶硅膜等。

  • P型硅片
  • N型硅片
  • 無雜質(zhì)硅片
  • CZ單晶硅片
  • FZ單晶硅片
  • BSG單晶硅片
  • 低阻值單晶硅片
  • 高阻值單晶硅片
  • 超薄單晶硅片
  • 超大尺寸單晶硅片

檢測項目(部分)

電導(dǎo)率、半導(dǎo)電性、導(dǎo)電程度、電氣性能、機械性能、物理性能等等。

  • 晶圓直徑:通過直接測量,確認(rèn)單晶硅的精確直徑。
  • 厚度:通過精確的測量設(shè)備,對單晶硅片的厚度進行測定。
  • 電阻率:測量單晶硅導(dǎo)電的能力。
  • 雜質(zhì)濃度:使用專門的設(shè)備檢測單晶硅中雜質(zhì)的含量。
  • 晶向:通過X射線衍射,測定單晶硅的晶向。
  • 生長缺陷:檢查單晶硅中的晶格陣列錯位情況。
  • 硅片類型:判斷單晶硅是N型還是P型。
  • 表面粗糙度:檢查單晶硅片表面的平滑度。
  • 彌散態(tài)雜質(zhì):檢測單晶硅中其他形式存在的雜質(zhì)。
  • 厚度均勻性:檢查單晶硅片的厚度是否均勻。

檢測標(biāo)準(zhǔn)(部分)

DIN 50434-1986半導(dǎo)體材料的檢驗; 單晶硅試樣的(111) 和(100) 蝕面上晶體結(jié)構(gòu)缺陷的測定

DIN 50443-1-1988半導(dǎo)體工藝使用材料的檢驗.第1部分:用X射線外形測量法檢測半導(dǎo)體單晶硅中晶體缺陷和不均勻性

DIN 50443-2-1994半導(dǎo)體工藝材料檢驗;用X射線粘撲法證明半導(dǎo)體單晶硅中晶體缺陷和不均勻性.Ⅲ-V-連接半導(dǎo)體

DIN 50453-1-1990半導(dǎo)體技術(shù)用材料的檢驗;腐蝕劑腐蝕率的測定;單晶硅,重量法

GB/T 6492-1986航天用標(biāo)準(zhǔn)太陽電池

GB/T 6494-2017航天用太陽電池電性能測試方法

GB/T 6496-2017航天用太陽電池標(biāo)定方法

GB/T 14015-1992硅-蘭寶石外延片

GB/T 20176-2006表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 用均勻摻雜物質(zhì)測定硅中硼的原子濃度

GB/T 29054-2019太陽能電池用鑄造多晶硅塊

GB/T 29055-2019太陽能電池用多晶硅片

GB/T 29057-2012用區(qū)熔拉晶法和光譜分析法評價多晶硅棒的規(guī)程

GB/T 29195-2012地面用晶體硅太陽電池總規(guī)范

GB/T 32277-2015硅的儀器中子活化分析測試方法

GB/T 32649-2016光伏用高純石英砂

GB/T 32651-2016采用高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法測量太陽能級硅中痕量元素的測試方法

GB/T 33236-2016多晶硅 痕量元素化學(xué)分析 輝光放電質(zhì)譜法

GB/T 38190-2019航天用太陽電池電子輻照試驗方法

GB/T 40109-2021表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 硅中硼深度剖析方法

GOST 19658-1981單晶硅錠 技術(shù)條件

GOST 24392-1980單晶硅和單晶鍺 電阻率的四探針測定法

JC/T 1048-2018單晶硅生長用石英坩堝

JC/T 2515-2019硅粉輸送用陶瓷球閥 技術(shù)條件

KS D0256-2002單晶硅的依據(jù)4探針的抵抗率測定法

SJ/T 11775-2021半導(dǎo)體材料多線切割機

SJ/T 11776-2021諧波保護器

T/CEMIA 004-2018光伏單晶硅生長用石英坩堝

T/CEMIA 005-2018光伏單晶硅生長用石英坩堝生產(chǎn)規(guī)范

T/ZZB 1389-2019單晶硅光伏電池

T/ZZB 1927-2020自動單晶硅棒切方機

檢測儀器(部分)

  • 激光散斑干涉儀
  • 電阻率測試儀
  • 化學(xué)成分分析儀
  • X射線衍射儀
單晶硅檢測

檢測資質(zhì)(部分)

榮譽 榮譽 榮譽 榮譽 榮譽 榮譽 榮譽 榮譽 榮譽 榮譽

檢測報告作用

1.提供產(chǎn)品進出口服務(wù)、市場營銷、產(chǎn)品質(zhì)量認(rèn)證等。

2.用來證明產(chǎn)品質(zhì)量,展示公司信譽。

3.為相關(guān)研究論文提供科學(xué)可靠的科研數(shù)據(jù)。

4.找出產(chǎn)品存在的問題,對產(chǎn)品進行內(nèi)部控制,提高產(chǎn)品質(zhì)量,降低產(chǎn)品成本。

5.可提供給商品銷售使用,入駐大型超市和各大網(wǎng)絡(luò)電商平臺。

6.協(xié)助政府單位進行工商質(zhì)量檢查和市場監(jiān)管。

7.可用于政府部門和事業(yè)單位機構(gòu)的招標(biāo)和投標(biāo)。

檢測實驗室(部分)

合作客戶(部分)

客戶 客戶 客戶 客戶 客戶

檢測流程

檢測流程 檢測流程
單晶硅檢測

以上為單晶硅檢測的檢測服務(wù)介紹,如有其他疑問可 聯(lián)系在線工程師

關(guān)鍵詞:單晶硅檢測
銅版紙檢測

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硅粉檢測
檢測優(yōu)勢

服務(wù)范圍廣泛
中析研究所檢測范圍覆蓋金屬材料、非金屬材料、建筑材料、高分子材料、能源產(chǎn)品、醫(yī)藥材料、化工產(chǎn)品、復(fù)合材料、納米材料、生物材料等多個領(lǐng)域。

檢測儀器齊全
擁有中大型儀器以及小型儀器千余臺,擁有紅外光譜儀、紫外光譜儀、核磁共振儀、超聲波探傷儀、X射線探傷儀、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡等多種儀器。

多所檢測實驗室
建設(shè)有材料實驗室、生物實驗室、化工實驗室、能源實驗室、電子實驗室、物理實驗室、力學(xué)實驗室、熱學(xué)實驗室等多個領(lǐng)域的實驗室,能夠?qū)z測樣品進行全面檢測。

多項榮譽資質(zhì)
中析研究所擁有“旗下實驗室CMA檢驗檢測機構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定證書”、“國家高新技術(shù)企業(yè)證書”、“企業(yè)信用評價AAA級信用企業(yè)”以及“中國檢驗檢測學(xué)會會員證書”等多個榮譽資質(zhì)。

榮譽資質(zhì)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所是以科研檢測為主的科學(xué)技術(shù)研究機構(gòu)。中析研究所堅持基礎(chǔ)研究與應(yīng)用研究并重、應(yīng)用研究和技術(shù)轉(zhuǎn)化相結(jié)合,發(fā)展為以任務(wù)帶學(xué)科為主要特色的綜合性研究所。中析研究所擁有國家高新技術(shù)企業(yè)和企業(yè)信用評價AAA級信用企業(yè),旗下實驗室擁有CMA檢驗檢測資質(zhì)證書,同時還是中國檢驗檢測學(xué)會理事單位。

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