檢測樣品（部分）

金屬、合金、納米材料、薄膜、微電子、機械等。

檢測項目（部分）

表面組成、濃度、化學狀態(tài)、斷口檢測、元素分布分析、元素價態(tài)分析、元素半定量分析、元素定性分析、材料失效分析等。

檢測標準（部分）

GB/T 20175-2006表面化學分析 濺射深度剖析 用層狀膜系為參考物質(zhì)的優(yōu)化方法

GB/T 21006-2007表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性

GB/T 21007-2007表面化學分析 信息格式

GB/T 25187-2010表面化學分析 俄歇電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述

GB/T 26533-2011俄歇電子能譜分析方法通則

GB/T 28632-2012表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率測定

GB/T 28893-2012表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 測定峰強度的方法和報告結(jié)果所需的信息

GB/T 28894-2012表面化學分析 分析前樣品的處理

GB/T 29556-2013表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定

GB/T 29558-2013表面化學分析 俄歇電子能譜 強度標的重復性和一致性

GB/T 29731-2013表面化學分析 高分辨俄歇電子能譜儀 元素和化學態(tài)分析用能量標校準

GB/T 30702-2014表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南

GB/T 31470-2015俄歇電子能譜與X射線光電子能譜測試中確定檢測信號對應樣品區(qū)域的通則

GB/Z 32490-2016表面化學分析X射線光電子能譜確定本底的程序

GB/Z 32494-2016表面化學分析俄歇電子能譜化學信息的解析

GB/T 32565-2016表面化學分析俄歇電子能譜(AES)數(shù)據(jù)記錄與報告的規(guī)范要求

GB/T 32998-2016表面化學分析 俄歇電子能譜 荷電控制與校正方法報告的規(guī)范要求

GB/T 33498-2017表面化學分析 納米結(jié)構(gòu)材料表征

GB/T 34326-2017表面化學分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析時離子束對準方法及其束流或束流密度測量方法

GB/T 35158-2017俄歇電子能譜儀檢定方法

GB/T 36504-2018印刷線路板表面污染物分析 俄歇電子能譜

GB/T 36533-2018硅酸鹽中微顆粒鐵的化學態(tài)測定 俄歇電子能譜法

檢測資質(zhì)（部分）

檢測報告作用

1.提供產(chǎn)品進出口服務、市場營銷、產(chǎn)品質(zhì)量認證等。

2.用來證明產(chǎn)品質(zhì)量，展示公司信譽。

3.為相關研究論文提供科學可靠的科研數(shù)據(jù)。

4.找出產(chǎn)品存在的問題，對產(chǎn)品進行內(nèi)部控制，提高產(chǎn)品質(zhì)量，降低產(chǎn)品成本。

5.可提供給商品銷售使用，入駐大型超市和各大網(wǎng)絡電商平臺。

6.協(xié)助政府單位進行工商質(zhì)量檢查和市場監(jiān)管。

7.可用于政府部門和事業(yè)單位機構(gòu)的招標和投標。

檢測實驗室（部分）

合作客戶（部分）

檢測流程

以上為俄歇電子能譜分析的檢測服務介紹,如有其他疑問可 聯(lián)系在線工程師！