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ZHONG XI

光電子能譜分析
在線咨詢 預(yù)約試驗

光電子能譜分析

發(fā)布時間:2021-10-08 13:55:47 更新時間:2024-11-16 11:46:49 檢測咨詢量:159 試驗測試中心

哪家檢測機構(gòu)可提供光電子能譜分析?第三方檢測機構(gòu)北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢驗測試中心能進(jìn)行無機化合物、合金、半導(dǎo)體、聚合物、催化劑、玻璃、陶瓷、染料、紙、墨水、木材、化妝品、植入物、生物材料、油脂、膠水等光電子能譜分析檢測項目并辦理光電子能譜分析報告。

檢測樣品(部分)

無機化合物、合金、半導(dǎo)體、聚合物、元素、催化劑、玻璃、陶瓷、染料、紙、墨水、木材、化妝品、牙齒、骨骼、植入物、生物材料、油脂、膠水等。

檢測項目(部分)

紫外光電子能譜分析、元素種類分析、定量分析、化學(xué)形態(tài)與結(jié)構(gòu)分析、定性分析等。

檢測標(biāo)準(zhǔn)(部分)

GB/T 19500-2004X一射線光電子能譜分析方法通則

GB/T 20175-2006表面化學(xué)分析 濺射深度剖析 用層狀膜系為參考物質(zhì)的優(yōu)化方法

GB/T 21006-2007表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標(biāo)的線性

GB/T 21007-2007表面化學(xué)分析 信息格式

GB/T 22571-2017表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)

GB/T 25184-2010X射線光電子能譜儀檢定方法

GB/T 25185-2010表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 荷電控制和荷電校正方法的報告

GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅層厚度的測量 X射線光電子能譜法

GB/T 28632-2012表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率測定

GB/T 28633-2012表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 強度標(biāo)的重復(fù)性和一致性

GB/T 28892-2012表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述

GB/T 28893-2012表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 測定峰強度的方法和報告結(jié)果所需的信息

GB/T 28894-2012表面化學(xué)分析 分析前樣品的處理

GB/T 29556-2013表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定

GB/T 30702-2014表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南

GB/T 30704-2014表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南

GB/T 30815-2014表面化學(xué)分析 分析樣品的制備和安裝方法指南

GB/T 31470-2015俄歇電子能譜與X射線光電子能譜測試中確定檢測信號對應(yīng)樣品區(qū)域的通則

GB/T 31472-2015X光電子能譜中荷電控制和荷電基準(zhǔn)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)指南

GB/Z 32490-2016表面化學(xué)分析X射線光電子能譜確定本底的程序

GB/T 33498-2017表面化學(xué)分析 納米結(jié)構(gòu)材料表征

GB/T 33502-2017表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜(XPS)數(shù)據(jù)記錄與報告的規(guī)范要求

GB/T 34326-2017表面化學(xué)分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析時離子束對準(zhǔn)方法及其束流或束流密度測量方法

GB/T 36401-2018表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報告

光電子能譜分析

檢測資質(zhì)(部分)

榮譽 榮譽 榮譽 榮譽 榮譽 榮譽 榮譽 榮譽 榮譽 榮譽

檢測報告作用

1.提供產(chǎn)品進(jìn)出口服務(wù)、市場營銷、產(chǎn)品質(zhì)量認(rèn)證等。

2.用來證明產(chǎn)品質(zhì)量,展示公司信譽。

3.為相關(guān)研究論文提供科學(xué)可靠的科研數(shù)據(jù)。

4.找出產(chǎn)品存在的問題,對產(chǎn)品進(jìn)行內(nèi)部控制,提高產(chǎn)品質(zhì)量,降低產(chǎn)品成本。

5.可提供給商品銷售使用,入駐大型超市和各大網(wǎng)絡(luò)電商平臺。

6.協(xié)助政府單位進(jìn)行工商質(zhì)量檢查和市場監(jiān)管。

7.可用于政府部門和事業(yè)單位機構(gòu)的招標(biāo)和投標(biāo)。

檢測實驗室(部分)

合作客戶(部分)

客戶 客戶 客戶 客戶 客戶

檢測流程

檢測流程 檢測流程
光電子能譜分析

以上為光電子能譜分析的檢測服務(wù)介紹,如有其他疑問可 聯(lián)系在線工程師!

關(guān)鍵詞:光電子能譜分析
檢測優(yōu)勢

服務(wù)范圍廣泛
中析研究所檢測范圍覆蓋金屬材料、非金屬材料、建筑材料、高分子材料、能源產(chǎn)品、醫(yī)藥材料、化工產(chǎn)品、復(fù)合材料、納米材料、生物材料等多個領(lǐng)域。

檢測儀器齊全
擁有中大型儀器以及小型儀器千余臺,擁有紅外光譜儀、紫外光譜儀、核磁共振儀、超聲波探傷儀、X射線探傷儀、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡等多種儀器。

多所檢測實驗室
建設(shè)有材料實驗室、生物實驗室、化工實驗室、能源實驗室、電子實驗室、物理實驗室、力學(xué)實驗室、熱學(xué)實驗室等多個領(lǐng)域的實驗室,能夠?qū)z測樣品進(jìn)行全面檢測。

多項榮譽資質(zhì)
中析研究所擁有“旗下實驗室CMA檢驗檢測機構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定證書”、“國家高新技術(shù)企業(yè)證書”、“企業(yè)信用評價AAA級信用企業(yè)”以及“中國檢驗檢測學(xué)會會員證書”等多個榮譽資質(zhì)。

榮譽資質(zhì)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所是以科研檢測為主的科學(xué)技術(shù)研究機構(gòu)。中析研究所堅持基礎(chǔ)研究與應(yīng)用研究并重、應(yīng)用研究和技術(shù)轉(zhuǎn)化相結(jié)合,發(fā)展為以任務(wù)帶學(xué)科為主要特色的綜合性研究所。中析研究所擁有國家高新技術(shù)企業(yè)和企業(yè)信用評價AAA級信用企業(yè),旗下實驗室擁有CMA檢驗檢測資質(zhì)證書,同時還是中國檢驗檢測學(xué)會理事單位。

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